درجہ حرارت میں تبدیلی کا امتحان: اصول ، درخواستیں اور طریقہ کار

درجہ حرارت میں تبدیلی کی جانچ اس بات کی تصدیق کرتی ہے کہ آیا مصنوعات کی کارکردگی قائم کردہ معیارات پر پورا اترتی ہے ، جو مصنوعات کے ڈیزائن میں بہتری ، کوالٹی کنٹرول ، اور فیکٹری کی قبولیت کے لئے اہم معلومات فراہم کرتی ہے۔ درجہ حرارت سائیکلنگ یا درجہ حرارت کے جھٹکے کی جانچ (تھرمل جھٹکا ٹیسٹنگ) کے نام سے بھی جانا جاتا ہے ، یہ ٹیسٹ بنیادی طور پر ذخیرہ کرنے ، نقل و حمل اور استعمال کے دوران محیطی درجہ حرارت میں تیز رفتار تبدیلیوں کے ل contents اجزاء ، سازوسامان اور دیگر مصنوعات کی موافقت کا اندازہ کرتا ہے۔ ماحولیاتی جانچ کے سازوسامان کا ایک پیشہ ور کارخانہ دار ، بوٹو گروپ صارفین کو درست اور قابل اعتماد درجہ حرارت سائیکلنگ ٹیسٹنگ کا سامان مہیا کرتا ہے ، جس سے انہیں درجہ حرارت کے انتہائی ماحول میں مصنوعات کی کارکردگی کو مکمل طور پر سمجھنے میں مدد ملتی ہے ، اور اس طرح مصنوعات کی وشوسنییتا اور حفاظت کو یقینی بناتا ہے۔

یہ ٹیسٹ تھرمل توسیع اور سنکچن کے اصول پر مبنی ہے۔ جب کسی مصنوع کو تیزی سے بدلتے ہوئے درجہ حرارت کے ماحول سے دوچار کیا جاتا ہے تو ، اس کے اندرونی مواد تیزی سے تھرمل توسیع اور سنکچن کی وجہ سے اندرونی تناؤ پیدا کریں گے۔ اگر یہ تناؤ مادی رواداری کی حد سے تجاوز کرتا ہے تو ، اس کی وجہ سے مصنوعات کو خراب یا ناکام ہوجائے گا۔

درجہ حرارت میں تبدیلی کی جانچ بنیادی طور پر مادی ڈھانچے اور جامع مواد پر کی جاتی ہے ، عام طور پر الیکٹرانک اجزاء اور اسمبلی کو نشانہ بناتے ہیں - سطح کی مصنوعات (جیسے پی سی بی اے اور آئی سی ایس)۔ بوٹو آپٹ الیکٹرانکس ، سیمیکمڈکٹر ، پی سی بی/پی سی بی اے ، اور الیکٹرانک اجزاء کی صنعتوں کے لئے جامع کارکردگی کی جانچ اور قابل اعتماد جانچ کے سازوسامان فراہم کرتا ہے۔ ہم مصنوعات کی جانچ کی مختلف ضروریات کی بنیاد پر اپنی مرضی کے مطابق سازوسامان کی حمایت کرتے ہیں ، جس میں ایک - ٹیسٹنگ کے حل بند کردیتے ہیں۔ قابل اعتماد سامان کی خریداری کی ضروریات کے ل you ، آپ کا ہمیشہ استقبال ہے →ہم سے رابطہ کریں.

GBT2423.22 ماحولیاتی جانچ - حصہ 2: ٹیسٹ کے طریقے - ٹیسٹ N: درجہ حرارت میں تبدیلی۔

الیکٹرانک اجزاء کی جانچ: پیچیدہ درجہ حرارت کے ماحول میں ان کے مستحکم آپریشن کو یقینی بنانے اور ان کی حفاظت اور کارکردگی کا اندازہ کرنے کے لئے الیکٹرانک اجزاء پر وشوسنییتا کی جانچ اور پروڈکٹ اسکریننگ ٹیسٹ کئے جاتے ہیں۔

اعلی تیز رفتار حد کی جانچ (HALT) ، اعلی تیز دباؤ اسکریننگ (HASS) ، اور اعلی تیز رفتار تناؤ کا معائنہ (HASA):

(1) اعلی تیز رفتار حد کی جانچ (HALT): باہمی رابطے کے تناؤ اور مکینیکل تناؤ کا جلد اندازہ کرنے کے لئے استعمال کیا جاتا ہے۔ یہ زندگی کی تشخیص کے ل suitable موزوں نہیں ہے اور ناکامیوں (ایم ٹی بی ایف) کے مابین اوسط وقت کا حساب نہیں لگا سکتا۔ یہ ٹیسٹ تکنیکی وضاحتوں میں بیان کردہ حدود سے کہیں زیادہ دباؤ کے تحت کیا جاتا ہے ، جس کا مقصد ناکامیوں کو راغب کرنا ، ممکنہ نقائص کو مشاہدہ کرنے والی ناکامیوں میں تبدیل کرنا ، ڈیزائن کی کمزوریوں کو ظاہر کرنا ، اور مصنوعات کی اصلاح کو ڈرائیو کرنا ہے۔ اس کے ساتھ ہی ، ہالٹ کے ذریعہ طے شدہ حد کے حالات کی بنیاد پر ، مینوفیکچرنگ کے عمل میں نقائص کو ختم کرنے کے لئے ایک تیز تیز تناؤ کی اسکریننگ (HASS) اسکیم تیار کی جاسکتی ہے ، جس سے مصنوعات کو اعلی آپریشنل وشوسنییتا کو تیزی سے حاصل کرنے کے قابل بناتا ہے۔

(2) اعلی تیز رفتار تناؤ کی اسکریننگ (HASS): متوقع استعمال یا نقل و حمل کے حالات سے کہیں زیادہ دباؤ کا استعمال کرتے ہوئے مصنوعات کی اسکریننگ کی جاتی ہے ، لیکن تناؤ کی سطح دہلیز سے نیچے ہے جو مصنوعات کی زندگی کو نمایاں طور پر متاثر کرے گی ، اور مشترکہ تناؤ مصنوعات کی آپریٹنگ حدود سے تجاوز نہیں کرتا ہے۔ اس کا بنیادی مقصد مینوفیکچرنگ کے عمل کے دوران متعارف کرائے گئے نقائص کو دلانے اور بے نقاب کرنا ہے۔

()) اعلی تیز دباؤ کا معائنہ (HASA): عمل کی نگرانی کے طریقہ کار کے طور پر ، نمونے پروڈکشن بیچ سے لیا جاتا ہے اور ممکنہ مینوفیکچرنگ نقائص کی نشاندہی کرنے کے لئے ہاس تناؤ کا نشانہ بنایا جاتا ہے۔

1. ٹیسٹ چیمبر کے اندر ہوا کا درجہ حرارت ایک مقررہ شرح پر مخصوص کم درجہ حرارت TA پر کم کریں۔

2. چیمبر کے اندر درجہ حرارت کے استحکام کے بعد ، ایک مخصوص وقت کے لئے کم درجہ حرارت ٹی اے پر ٹیسٹ کے نمونے کو مسلسل بے نقاب کریں۔

3. ٹیسٹ چیمبر کے اندر ہوا کا درجہ حرارت ایک مقررہ شرح پر مخصوص اعلی درجہ حرارت ٹی بی میں بڑھائیں۔

4. چیمبر کے اندر درجہ حرارت کے استحکام کے بعد ، ایک مخصوص وقت کے لئے اعلی درجہ حرارت ٹی بی پر ٹیسٹ کے نمونے کو مستقل طور پر بے نقاب کریں۔

5. آخر میں ، ٹیسٹ چیمبر کے اندر ہوا کا درجہ حرارت لیبارٹری کے محیطی درجہ حرارت پر 25 ڈگری ± 5K کو ایک مقررہ شرح پر کم کریں۔